EL测试仪，又称太阳能组件电致发光缺陷检测仪，是跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺陷检测及生产工艺监控的专用测试设备。给晶体硅电池组件正向通入1-1.5倍Isc的电流后硅片会发出1000-1100nm的红外光，测试仪下方的摄像头可以捕捉到这个波长的光并成像于电脑上。因为通电发的光与PN结中离子浓度有很大的关系，因此可以根据图像来判断硅片内部的状况。

面对日益严重的生态环境和传统能源短缺等危机，光伏组件制造行业迅猛发展，组件从硅料——电池片——组件，其中每个环节的工艺制造不合格都会很大程度影响组件的光电转化效率。像断栅、隐裂、虚焊、碎片等这些缺陷人肉眼根本无法识别。组件质量控制环节中测试手段在不断增强，目前一种可以测试晶体硅组件潜在缺陷的方法为行业内广泛采用，基于电致发光理论，利用近红外检测方法，可以检测出晶体硅组件中常见的隐性缺陷。那就是EL缺陷检测仪。

光电组件EL缺陷检测仪，利用红外摄像头捕捉通电组件所产生的红外射线，成像于电脑屏幕，用于检测太阳能电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池异常现象，操作简便，画面直观。

CCD摄像机采用高端进口感光芯片，成像效果优良；并带有制冷功能，制冷效果可达-20℃，可进一步提升图像质量。摄像机分为1200万、1600万像素不同规格，并可配置双相机。

专业PC软件，不仅可以实现测试流程的监控，还允许客户直接标记缺陷类型，随同测试结果一同保存。具有本地数据库可实现测试结果的查询，同时具有同客户数据库系统接口功能，可将测试结果及时上传，也可上报设备工作情况。更多功能可由客户的需求定制。自动条形码扫描功能。

莱克斯EL缺陷检测仪能帮助生产厂家及时地控制和改善生产工艺，以免造成更大或者不必要的损失。该检测应用对整个光伏产业具有深刻意义和重大价值。