便捷式EL测试仪检测光伏组件常见的缺陷有哪些

EL测试仪是光伏应用光伏行业，如光伏组件的缺陷检测、太阳能电池片内部缺陷检测、硅片隐裂检测等。在光伏组件、光伏电站中采用便携式的 ，可以适应不同环境、不同场所的应用，方便其对光伏组件产生的内部缺陷进行快速识别判断。莱克斯今天带大家了解下检测出的缺陷有哪些？

1. 断栅

电池片的断栅主要是由于电池片本身栅线印刷不良或电池片不规范焊接造成的。从EL测试图中表现为沿电池片主栅线的暗线，这是因为电池片的副栅线断掉 后，EL测试过程中从电池片主栅线上注入的电流在断栅附近处的电流密度很小甚至没有，从而导致电池片的断栅处发光强度较弱或不发光。

2.破片

组件中的破片多出现在组件封装过程的焊接和层压工序，在EL测试图中表现为电池片中有黑块，因为电池片破裂后在电池片破裂部分没有电流注入，从而导致该部分在EL测试中不发光。

3.隐裂

晶 体硅太阳电池所采用的硅材料本身易碎，因此在电池片生产和组件封装过程中很容易产生裂片。裂片分两种一种是显裂，另一种是隐裂。显裂是肉眼可以直接看到 的，在组件生产过程中的分选工序就可以剔除；而隐裂是肉眼无法直接看到的，并且在组件的制作过程中更容易产生破片等问题。由于单晶硅的解离面具有一定的规 则，通过EL测试图可以清晰地看到单晶硅电池片的隐裂纹一般是沿着电池片对角线方向的“x”状图形；多晶硅电池片由于晶界的影响有时很难区分是多晶硅的晶 界还是电池片中的隐裂纹。

4.电池片电阻不均匀

EL测试单个电池片表面发光强度不均匀，这是由于电池片电阻不均匀造成的, 较暗区域一般串联电阻较大。这种缺陷也能反应电池片少子寿命的分布状况，缺陷部位少子跃迁机率降低，在EL测试过程中表现为发光强度较弱

5.黑芯片

黑芯片在EL测试图中我们可以清晰的看到从电池片中心到边缘逐渐变亮的同心圆，它们产生于硅材料生产阶段，与硅棒制作过程中氧的溶解度和分凝系数大 有关系。此种材料缺陷势必导致晶体硅电池片的少数载流子浓度降低，从而导致电池片中有此类缺陷的部分在EL测试过程中表现为发光强度较弱或不发光。

6. 电池片混挡

一块组件的EL测试图中有部分电池片发光强度与该组件中的大部分电池片相比较弱，这是由于这部分电池片的电流或电压分档与该组件中大部分电池片的电流或电压分档不一致造成的。

7. 烧结缺陷

在电池片生产过程中，烧结工序工艺参数不佳或烧结设备存在缺陷时，生产出来的电池片在EL测试过程中会显示为大面积的履带印。实际生产中通过有针对 性的工装改造就可以有效的消除履带印的问题。例如采用顶针式履带生产出来的电池片在EL测试图只能看到若干个黑点而没有大面积的履带印。

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